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磁性薄膜材料測量設(shè)備磁光克爾效應(yīng)測量系統(tǒng) 手動(dòng)左右和上下位移樣品，可測試樣品表面不同點(diǎn)的克爾效應(yīng)，樣品座有電接口，可加入磁電耦合測試。

儀器輕巧方便，易于攜帶，主要用于量測電子材料之重要特性參數(shù)，如載流子濃度、遷移率、電阻率、霍爾系數(shù)等，薄膜或固體材料均可。半導(dǎo)體材料測試霍爾效應(yīng)-電磁鐵型JH60A

實(shí)驗(yàn)室半導(dǎo)體測量室溫探針臺(tái)JZM-D30芯片測試 該探針臺(tái)和我司自主研發(fā)的高精度雙極性恒流電源搭配使用，可以提高磁場的高穩(wěn)定性。

實(shí)驗(yàn)室半導(dǎo)體測量設(shè)備氣氛型高溫探針臺(tái) 提供真空抽口*1、氣體入口*1、氣體出口*1、真空釋放口*1； 匹配觀察窗，插拔樣品卡，探針卡，鱷魚夾。